首頁 > 產品中心
咨詢熱線：400-1059178|18620906383
留言板 -
團隊超20年的從業經驗，熟知光學、光譜、電性等行業測試，我會在最快的時間與您聯絡；
銷售：廖經理
手機：18620906383
*已整理所有中英文目錄，供您下載
產品中心
JOMESA HFD PLUS
? 三倍以上測量速度
? 顯微分析法更準確測量濾膜上污染物顆粒
? 全自動分析過程
? 自動識別金屬顆粒（JOMESA專利）
? 整體保存濾膜全圖和數據，自動生成報告，自動統計分析
點擊查詢
點擊查詢
PrimaScan 系列
型 號 ：PrimaScan R&D
PrimaScan
PrimaScan P
Celero PL
產 地 ：美國
采用光學表面分析（OSA）專用技術的自動特征缺陷（DOI）檢測與分類系統。
點擊查詢
FocalSpec CT Series
● 重復精度50納米；
● 完美適應“透明"，"高反光" 等復雜表面材料
● 可測量平面度、粗糙度、輪廓臺階等3D尺寸
● 最大掃描成像 視場 300*300mm（兼容12" wafer)
點擊查詢
光譜共聚焦3D輪廓儀
 |
? 適用于透明/高反光 等復雜樣品表面的掃描成像
? 最大掃描重復精度可達 50nm
? 2D平面尺寸，3D輪廓高低臺階，3D平面度面型測量，表面粗糙度? 測試，3D-CAD對比功能，線輪廓度，面輪廓度等
? 靈活測試方案，可以做產線自動化訂制；實現在線全檢。
? 最大拼接視野 可達300*300mm
|
? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?透明玻璃/高反光金屬? 手機混合類材料3D檢測/測量
? ?平面度/平整度測試/? BGA植絨球
大視野下 納米級 粗糙度表面分析
 |
 |
KLA-Profilm 3D
● 亞納米級別精度下，
● 最大可實現厘米級視野（自動拼接）
● 平面度/平整度/面型測量，涵蓋粗糙度，臺階輪廓等測量功能；
（KLA知名品牌，售價低，高性價比）
點擊查詢
MicroProf@半/全自動系列
● 納米級別精度下，
● 最大可滿足12寸晶圓全幅面測量
● 平面度/平整度/面型測量，涵蓋TTV BOW WARP，粗糙度，膜厚等測量功能
（適用實驗離線分析 和 產線線上全自動分析）
點擊查詢
MicroProf?AP
晶圓3D輪廓顯微測量
Max 300mm范圍 全視野 3D輪廓掃描測量
全自動 實現TTV BOW WARP 粗糙度等測試
MicroProf AP系列 全自動系列
點擊查詢
MicroProf?DI
晶圓3D輪廓顯微測量
Max300mm范圍 全視野 3D輪廓掃描測量
全自動 實現TTV BOW WARP 粗糙度等測試
MicroProf DI系列 全自動系列
點擊查詢
咨詢熱線：400-1059178|18620906383
留言板 -
團隊超20年的從業經驗，熟知光學、光譜、電性等行業測試，我會在最快的時間與您聯絡；
銷售：廖經理
手機：18620906383
